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Title: Caracterização tecnológica por microfluorescência de raios X de amostra de depósito de ouro orogênico da mina de pilar, Quadrilátero Ferrífero
View/OpenDaniel Barra Lucchesi.pdf ( 757.39 kB )
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dc.contributor.authorLucchesi, Daniel Barra
dc.contributor.authorAlves, Felipe Emerson André
dc.date.accessioned2026-10-12T17:12:31Z
dc.date.available2026-10-12T17:12:31Z
dc.date.issued2026
dc.identifier.citationLUCCHESI, Daniel Barra; ALVES, Felipe Emerson André. Caracterização tecnológica por microfluorescência de raios X de amostra de depósito de ouro orogênico da mina de pilar, Quadrilátero Ferrífero. In: JORNADA DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA, 34.; JORNADA DE INICIAÇÃO EM DESENVOLVIMENTO TECNOLÓGICO E INOVAÇÃO, 10., 2026, Rio de Janeiro. Anais […]. Rio de Janeiro: CETEM/MCTI, 2026.
dc.identifier.isbn978-65-5919-108-6
dc.identifier.urihttp://mineralis.cetem.gov.br/handle/cetem/3038
dc.publisherCETEM/MCTI
dc.subjectMicrofluorescência de raios X
dc.subjectMinério de ouro
dc.subjectQuadrilátero ferrífero
dc.subjectX-ray fluorescence microspectrometry
dc.subjectGold ore
dc.titleCaracterização tecnológica por microfluorescência de raios X de amostra de depósito de ouro orogênico da mina de pilar, Quadrilátero Ferrífero
dc.title.alternativeTechnological characterization by X-ray fluorescence microspectrometry of an orogenic gold deposit sample from the pilar mine, Quadrilátero Ferrífero
Appears in Collections:Jornada de Iniciação Científica

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