Title:	Caracterização tecnológica por microfluorescência de raios X de amostra de depósito de ouro orogênico da mina de pilar, Quadrilátero Ferrífero
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Other Titles:	Technological characterization by X-ray fluorescence microspectrometry of an orogenic gold deposit sample from the pilar mine, Quadrilátero Ferrífero
Author:	Lucchesi, Daniel Barra Alves, Felipe Emerson André
Keywords:	Microfluorescência de raios X Minério de ouro Quadrilátero ferrífero X-ray fluorescence microspectrometry Gold ore
Date of Public.:	2026
Publisher:	CETEM/MCTI
Citation:	LUCCHESI, Daniel Barra; ALVES, Felipe Emerson André. Caracterização tecnológica por microfluorescência de raios X de amostra de depósito de ouro orogênico da mina de pilar, Quadrilátero Ferrífero. In: JORNADA DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA, 34.; JORNADA DE INICIAÇÃO EM DESENVOLVIMENTO TECNOLÓGICO E INOVAÇÃO, 10., 2026, Rio de Janeiro. Anais […]. Rio de Janeiro: CETEM/MCTI, 2026.
URL:	http://mineralis.cetem.gov.br/handle/cetem/3038
ISBN:	978-65-5919-108-6
Appears in Collections:	Jornada de Iniciação Científica

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